Тъй като високо{0}}производството все повече се доближава до изключителна прецизност, производствената точност и трудността при проверка на оптичните компоненти се издигат до безпрецедентни висоти. Ролята на оптичните технологии за тестване и измерване претърпява дълбоки промени. Независимо дали става дума за сложна повърхностна инспекция със свободна форма на AR/VR оптични вълноводи, масово калибриране на автомобилен-клас LiDAR или под-микронно не-разрушително откриване на дефекти на TSV отвори в усъвършенствани опаковки, оборудването за оптично измерване и проверка се превърна в „стандартна мярка“ за технологична итерация и промишлено внедряване, дълбоко вградена в цялата верига от научноизследователска и развойна дейност до масово производство. Предстоящото CIOE Precision Optics Expo & Camera Technology and Applications Expo, което ще се проведе през септември тази година, интензивно ще демонстрира ключови технически пробиви и индустриални приложения в тази област.
Оптично измерване в свободна форма: Преодоляване на пречките в масовото производство на основни оптични компоненти в потребителската електроника и интелигентните превозни средства
В областта на оптичния дизайн, основната стойност на технологията за повърхност със свободна форма се крие в разчупването на ограниченията на традиционните сферични и осесиметрични асферични повърхности, интегрирането на множество оптични функции в един компонент, като по този начин драстично компресира обема на системата, намалява теглото и подобрява качеството на изображението. Тази характеристика го прави критичен избор за компоненти за свързване на оптичен вълновод в слушалки за AR/VR, сканиращи призми и приемащи лещи в автомобилни LiDAR и-обективи за смартфони от висок клас. Предпоставката за високо-прецизното производство обаче е високо-прецизното измерване. Точността на формата на повърхностите със свободна форма е напреднала от суб-микронно ниво до нанометрово ниво и тези компоненти често имат сложни, не-ротационно симетрични профили. Традиционните офлайн инспекции на профилометри отнемат-време и се борят да отговарят на съвременните производствени ритми.
Лидерите в индустрията ускоряват усилията си за преодоляване на това предизвикателство.Шестоъгълникпоследователно въвежда автоматизирани системи за инспекция през последните години, които съчетават усъвършенствано оптично измерване с роботика, покривайки широк спектър от нужди от измерване с точност на микрон-ниво до инспекция на компоненти в голям-мащаб, предоставяйки гъвкави и конфигурируеми решения за производствени сценарии от различни мащаби. Няколко оптични измервателни устройства, разработени независимо отИнструменти Zhongtuса влезли във водещи научноизследователски институции. Неговите фибро-оптични лазерни мащабни продукти, базирани на собствена технология за лазерна интерференция, имат за цел да осигурят локализирана поддръжка за измерване в затворен-контур за полупроводникова и ултра{3}}прецизна обработка, като правят солидна стъпка към прекъсване на зависимостта от внос и изграждане на независима, контролируема измервателна верига.Тейлър Хобсънпродължава да оптимизира ефективността на своята без{0}}контактна 3D оптична система за измерване при проверка на повърхности в свободна форма. Чрез въвеждането на автоматизирани и интелигентни функции, той значително подобри плавността на тестването на производствената линия, трансформирайки измерването с висока-прецизност от специализирана „бавна и щателна работа“ в-линия-„бързо калибриране“. Тези технически постижения и практики на приложение постепенно изчистват ключови пречки за оптика със свободна форма между лабораторни прототипи и широко-мащабно производство, осигурявайки надеждна гаранция за качество за бързото приемане на нововъзникващи индустрии като AR/VR и автомобилен LiDAR.
Промишлена интелигентна инспекция: Оборудване на интелигентното производство с „очи, които никога не се уморяват“
Ако измерването в свободна форма е насочено към високо{0}}прецизното формоване на отделни оптични компоненти, промишлената интелигентна инспекция се справя с предизвикателствата за качество на цялата производствена линия-от захранващи батерии до автомобилни щампи и от оптични лещи до електронни модули. Изискванията на индустриалното производство за инспекция отдавна са надхвърлили обхвата на традиционното машинно зрение. Той трябва не само да бъде бърз и точен, но и да се адаптира към сложни и променливи материали, много-превключване на различни варианти и непрекъсната работа в безлюдни фабрики. Това доведе до дълбоката интеграция на оптичното измерване и AI, надграждайки системите за проверка от „виждане на дефекти“ до „разбиране на дефекти“.
Възползвайки се от дълбокото си натрупване в областта на високо{0}}прецизните оптични измервания,PanasonicСерията инструменти за ултра-прецизно измерване на профила на повърхността продължава да служи като еталон за проверка и контрол на качеството в сценарии за ултра-прецизна обработка, като оптика от висок-клас и VA жлебове. Едновременно с това разширява своята производствена линия с продукти за приложение като лазерни сензори за изместване, стремейки се да играе централна роля в целия -производствен процес от висок клас.Оптика Dongzheng, доставчик на промишлени лещи и решения за оптични изображения, продължава да се задълбочава в машинното зрение и сценариите за интелигентни проверки. Наскоро постигна напредък в разширяването на продуктовата си линия за индустриални лещи и осигуряването на множество основни патенти. Неговите разработени лещи за линейно сканиране, телецентрични лещи и други продукти се прилагат при зрителна инспекция на литиеви батерии, скрининг на плоски панели и стъклени дефекти и други сценарии, помагайки на интелигентните производствени предприятия да ускорят реализацията на цялостен автоматизиран контрол на качеството на производствените линии. Тъй като алгоритмите за обработка на AI изображения се развиват, оборудването за оптична инспекция се развива от самостоятелен инструмент за инспекция в основен възел за данни в рамките на веригата за обратна връзка за оптимизиране на процеса.
Оптично измерване на полупроводници: укрепване на „защитна линия в нанометров-мащаб“ за добив на чип
Ако промишлената интелигентна инспекция „улавя дефекти“ на макро производствена линия, полупроводниковото оптично измерване „предпазва добива“ на микрочип-в микроскопичния свят на чиповете, нито един процес не допуска грешка. Тъй като производствените процеси напредват към по-сложни възли, всеки дефект в нанометров-мащаб-като частици върху повърхността на вафлата, дефекти на модела, грешки при наслагване или микропукнатини-може да доведе до повреда на цяла партида чипове. Възползвайки се от предимствата на без{6}}контакта и високата{7}}пропускливост, оборудването за оптична инспекция остава най-разпространеният технически път при инспекция-на дефекти на пластини в предния край и усъвършенствани измервания на опаковки в задния край-.
Цайс, разчитайки на дълбокото си оптично наследство, продължава да дава възможност на веригата на полупроводниковата индустрия, предоставяйки цялостни решения за целия процес на производство на чипове от фотомаски и инспекция на пластини до анализ на неизправност на опаковката, като същевременно активно се привежда в съответствие с индустриалните стандарти за подобряване на ефективността и надеждността на производството.УКОТЕКинтерферометърът за бяла-светлина AM-серия 8000, оборудван с множество високо-скоростни нанометрови пиезоелектрични керамики и захранван от уникални SST+GAT и алгоритми за извличане на слаба-светлина, координира с едно-автофокусиране и технология за нивелиране. Позволява бързо и ефикасно измерване на силициеви пластини, чипове и високо-скоростни устройства, постигайки под-нанометрова прецизност на инспекцията за бързо улавяне на критични данни като размери на микро-топография, височини на стъпалата и грапавост, осигурявайки стабилна поддръжка на данни за научноизследователска и развойна дейност и производство.Брукерускорява развитието на своята фототермична инфрачервена атомно-силова спектроскопия (PTIR-AFM) технология, разширявайки приложението на нано-IR спектроскопия от традиционен наноразмерен анализ на замърсители до по-мащабни изследвания на усъвършенствани полупроводникови материали и архитектури на устройства, предлагайки ключови възможности за химическо характеризиране за следващо-поколение R&D на чипове.Кейнснепрекъснато итерира в областта на машинното зрение и автоматизираната оптична инспекция, разширявайки своите високо{0}}прецизни 3D сканиращи измервания и продуктови линии за микроскопски анализ, за да поддържа своето предимство в индустрията по отношение на ефективност и интелигентност.Идеоптика, която се фокусира върху спектроскопската инспекция, също стартира ново поколение решения за преден -процес за инспекция на полупроводници. Неговата технология за елипсометрично измерване демонстрира изключителни възможности за откриване на дебелината на филма в критични етапи на процеса като ецване и отлагане, превръщайки се в незаменим инструмент за вграден мониторинг в напреднали възли. Едновременно с това вниманието на капиталовия пазар към оптичната измервателна писта продължава да нараства; множество сливания и придобивания и финансови събития показват, че стратегическата стойност на това поле е двойно призната както от индустрията, така и от капитала.
Цяло{0}}верижно агрегиране на оптични тестове и измервания: всичко от компоненти до системи, всичко на едно място
Глобалната верига за оптоелектронна индустрия-на едно гише, CIOE (Китайска международна оптоелектронна изложба), ще се проведе от 9-11 септември 2026 г. в Световния изложбен и конгресен център Шенжен. Изложението Precision Optics & Camera Technology and Applications Expo интензивно ще представи най-новите постижения в оптичното тестване и измерване, съсредоточено върху основни сектори като оптични измервателни инструменти, оптични системи за изображения, машинно зрение и промишлена автоматизация, покривайки изчерпателно техническите възможности на едно-от оптични материали и обработка на прецизни компоненти до измервателно оборудване и софтуерни алгоритми. Изложението ще включва решения за измерване на профила на повърхността на нанометрово- ниво за сложни оптични компоненти като повърхности със свободна форма и асферични повърхности и също така ще демонстрира онлайн системи за визуална инспекция, интегрирани с AI алгоритми за постигане на преценка и класификация на дефекти в реално време на производствени линии, изграждане на ефективна техническа платформа за намиране на съответствие за индустриални потребители и научноизследователски институции.
Някои от участващите компании включват Hexagon, Zeiss, Taylor Hobson, Zygo, Mitutoyo, Panasonic, Zhongtu Instruments, Keyence, Yuchuan Optics, Berlin All-Optics, Qanyao Optics, Chengdu Tech, InterTech, Motic, Beijing Optotech, UCOTEC, Hanhua Semiconductor, Zhaofeng, Xiaogan Huazhong Precision, Suzhou Heihe Electronics, Hangzhou Topu, Bruker, Guangzhou Jinghua, Ideaoptics, Guangheng, Kefeng, Dongzheng Optics, Tuojie, Ankuo, Zhichang Technology, Photon Precision, Taiwan Ultra-Micro Optics, Jinan Sensen, Marposs, Xingqing Optics и др.*Частичен списък на компаниите, без конкретен ред.
Мястото на изложбата ще бъде домакин и на „Форум за технологии за инспекция на оптични полупроводници“, който ще събере експерти от индустрията и представители на корпорации, за да обсъдят задълбочено решения за интелигентни инспекции, управлявани от AI-, както и високо{1}}скоростни и високо-прецизни измервателни практики за усъвършенствани възли и опаковки. Той има за цел да насърчи съвместните иновации сред промишлеността, академичните среди и научните изследвания и съвместно да изгради нов промишлен път за проверка на полупроводници, преминавайки от „пасивно откриване“ към „активно интелигентно управление“. Едновременни форуми като „Форум за ултра-прецизни/нано оптични производствени технологии“ и „Конференция за оптично вакуумно покритие на CIOE“ също ще се занимават с-решения за кръстосана проверка в мета/нано и ултра-прецизна обработка, както и прецизното измерване и контрол на филмовите слоеве в оптичното покритие.
Три -връзки с Expo: Оптични тестове и стъпки на измерване от „Стандартна мярка“ до „Активатор“
От повърхности със свободна форма и промишлена интелигентна проверка до оптично измерване на полупроводници, оптичното тестване и измерване преминават от пасивна проверка на качеството към ядрото на активната оптимизация на процеса. Методите за измерване ускоряват навлизането си в производствените линии чрез вградена и интелигентна адаптация, пренасочвайки контрола на качеството напред от „след-събитийно наблюдение“ към „{-контрол на процеса“. Масивни микро-топографски данни, съчетани с AI и периферни изчисления, формират затворен цикъл на „коригиране-на-инспекция-на дизайна на производството. Това прецизно, интелигентно и-вграждащо се решение за измерване стимулира „технологичната демократизация“ в областта на производството.
Тази година CIOE ще -се намира съвместно с IICIE (Международна изложба за иновации в интегрирани схеми) и elexcon Shenzhen Electronics Show, обхващаща общ мащаб от 340 000 квадратни метра и събираща над 5000 изложители, за да покрие пълната екосистема от оптоелектроника, интегрални схеми и електронни системи. В CIOE можете да намерите широка гама от решения за оптично тестване, обхващащи повърхности със свободна форма, индустриална интелигентна проверка и измерване на полупроводници. Междувременно в IICIE ще видите пълни решения за оптично измерване на полупроводници, включително измерване на грешки при наслагване на литография на пластини в предния-край и откриване на дебелината на филма, усъвършенствано TSV измерване на задния-опаковки и инспекция на копланарност на неравностите, както и не-разрушителен оптичен тест на качеството на свързване. Връзката с три-експо ви помага ефективно да завършите избора на технологии и намирането на бизнес партньори, като наистина преодолявате „последната миля“ от нуждите от проверка до практически решения.
От 9-11 септември в Световния изложбен и конгресен център Шенжен очакваме с нетърпение да станем свидетели на скока на стойността на оптичното тестване и измерване с вас.
